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關于掃描電子顯微鏡的組成結構

更新時間:2022-05-31    瀏覽量:804
掃(sao)描電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡最基本(ben)的(de)功能是(shi)對(dui)各種固體樣品表面進(jin)行高分辨形貌觀(guan)察(cha)。大景深圖像是(shi)掃描(miao)電鏡觀(guan)察(cha)的(de)特色,例如:生物學(xue),植(zhi)物學(xue),地質學(xue),冶金學(xue)等等。觀(guan)察(cha)可(ke)以是(shi)一(yi)個(ge)樣品的(de)表面,也可(ke)以是(shi)一(yi)個(ge)切開(kai)的(de)面,或是(shi)一(yi)個(ge)斷面。

結(jie)構組成:

1.真空系(xi)統

成像(xiang)系統和(he)電子束系統均內置于真空(kong)柱(zhu)中。真空(kong)柱(zhu)的(de)底部是(shi)密封室,也就是(shi)放置樣(yang)品的(de)地方(fang)。

之所以采用真空,主要基于以下(xia)兩個原因:

電子束系統(tong)中的燈絲在(zai)普通大氣中會很快(kuai)氧化失效,所以(yi)使用(yong)SEM時除(chu)了真空外,通常還需要用(yong)純氮氣或(huo)惰(duo)性氣體充(chong)滿整個真空柱。

為(wei)了(le)增(zeng)加電子(zi)的平均自由(you)程,使更(geng)多的電子(zi)用于(yu)成像。

2. 電子束系(xi)統

電(dian)(dian)子(zi)(zi)束系統由電(dian)(dian)子(zi)(zi)槍(qiang)和電(dian)(dian)磁透鏡組成(cheng)。主(zhu)要用于產(chan)生能量分(fen)布很窄且具有一定電(dian)(dian)子(zi)(zi)能量的電(dian)(dian)子(zi)(zi)束,用于掃描成(cheng)像。

3.電子槍

電子槍是用(yong)來(lai)產(chan)生(sheng)電子的,主要有兩種,一共三種。

4.電(dian)磁透(tou)鏡

熱發射電子(zi)(zi)需要電磁透鏡才(cai)能形成(cheng)光束,因此電磁透鏡對(dui)于使用熱發射電子(zi)(zi)槍的(de)SEM來說是不可少(shao)的(de)。通常(chang)組(zu)裝兩個(ge)組(zu):

會(hui)(hui)聚透(tou)鏡:顧名思義,會(hui)(hui)聚透(tou)鏡使用(yong)會(hui)(hui)聚電子(zi)束,組裝(zhuang)在真空柱中,位于(yu)(yu)電子(zi)槍下方。通常不止一個,并且(qie)有(you)一組會(hui)(hui)聚光圈與(yu)之匹配。 但是,會(hui)(hui)聚透(tou)鏡僅用(yong)于(yu)(yu)會(hui)(hui)聚電子(zi)束,與(yu)成像(xiang)焦點無關。

物鏡(jing):物鏡(jing)是真(zhen)空柱底部的電磁透鏡(jing),負(fu)責將電子束的焦點會聚到樣(yang)品表面(mian)。

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