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首頁  >  產品中心   >  掃描電子顯微鏡  >  原位掃描電鏡 ; >  ZEM15原位掃描(miao)電鏡（SEM）

原位掃描電鏡（SEM）

【產品概述】原位(wei)掃描電鏡(jing)（SEM）基于自主研發的(de)臺(tai)式掃描電鏡(jing)，集成原位(wei)拉(la)伸樣(yang)品臺(tai)，對樣(yang)品進行原位(wei)拉(la)伸/壓縮/彎曲的(de)過程(cheng)中實(shi)時觀察樣(yang)品表面形貌的(de)變化，拓展了掃描電鏡(jing)的(de)應用(yong)領域。

  • 產(chan)品型號：ZEM15
  • 更新(xin)時間：2023-04-11
  • 訪(fang)  問  量：6185
  • 廠商性質：生(sheng)產廠家

產品詳情

    原位掃描電鏡（SEM）采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

   原位拉伸臺參數

   載荷范圍：0-1000N

   位移分辨率：20nm

   加熱模塊：可選

   加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

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電鏡主機特色

鼠標.jpg僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復雜步驟；

亮度/對比(bi)度一鍵自適應，自動/手動聚焦;






 

視頻模式.jpg抽真空時間小于90秒；

標配光學導航，搭配多樣品臺，實現快速找樣及切換樣品；


采集帶寬.jpg信號采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下(xia)實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓(dun)；



多探測器.jpg四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；BSE+SE 模式（任意比列(lie)混合）、集成(cheng)EDS元素分析(xi)功(gong)能(neng)；


無憂售后.jpg國內生產、銷售、售后一體化服務；
北(bei)京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供(gong)設備(bei)演示；






   安徽澤攸科技有限公司擁有一支精通機械、光學、超高真空、電子技術、微納加工技術、軟件開發技術的技術團隊，致力于突破電子顯微鏡制造這一"卡脖子"技術難題，自主研發的原位掃描電鏡（SEM）結合了電鏡整機及原位樣品臺技術，支持個性化定制，可選原位加熱/冷凍樣品臺、原位力學、原位電學樣品臺等。澤攸科技將持續不斷地優化產品型號及配置，期待與您的合作。



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